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影响标线涂层测厚仪的五大因素

发表时间:2020-04-24  |  点击率:215
  试件上会测出不太可靠的数据。读数次数通常仪器的每次读数并不完全相同。因此必须在每一测量面积内取几个读数,覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量。表面粗糙时更应如此。


 
  影响标线涂层测厚仪测量的五大因素如下:
 
  1.基体金属磁性磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为时轻微的)。为了避免热处理、冷加工等因素的影响,应使用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。
 
  2.基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
 
  3.表面粗糙度基体金属何覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差何偶然误差。每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。
 
  4.边缘效应本仪器对试片表面形状的陡变敏感。因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
 
  5.曲率试件的曲率对测量有影响,这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
 
  如果基体金属粗糙,还必须在未屠夫的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对标线涂层测厚仪的零点;或用没有腐蚀性的溶液除去基体金属覆盖层,再校对标线涂层测厚仪的零点。
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